Datenträger, HF, EEPROM, Speichergröße 128 Byte, Die Hochtemperatur-Datenträger müssen vor Einsatz einer hinreichenden Eignungsprüfung in Form von Belastungstests in den jeweils vorgesehen Temperaturprozessen unterzogen werden., Folgender Belastungstest wurde bei diesem Datenträger vorgenommen:?Zyklische Temperaturbelastung: 20 Min. bei 20 °C ? 20 Min. bei 220 °C?Anzahl getesteter Zyklen: 1500?Dieser erfolgreich durchgeführte Test impliziert nicht die Eignung für eine spezifische Hochtemperatur-Applikation, sondern dient lediglich als Nachweis der grundsätzlichen Verwendbarkeit., Die Halterungen TH-Q51S-HT und TH-Q51T-HT schützen den Datenträger vor mechanischen Belastungen und ermöglichen gleichzeitig die Montage auf Metall.